IEC 60747-7-2-1989 半导体器件分立器件第7部分:双极晶体管第2节:低频放大外壳额定双极晶体管空白详细规范
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时间:2024-05-20 05:36:47
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【英文标准名称】:Semiconductordevices;discretedevices;part7:bipolartransistors;sectiontwo:blankdetailspecificationforcase-ratedbipolartransistorsforlow-frequencyamplification
【原文标准名称】:半导体器件分立器件第7部分:双极晶体管第2节:低频放大外壳额定双极晶体管空白详细规范
【标准号】:IEC60747-7-2-1989
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1989-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:Theblankdetailspecificationdescribedincludesmechanicaldescription,categoriesofassessedquality,limitingvalues,electricalcharacteristics,marking,orderinginformation,testconditionsandinspectionrequirements.TobeusedwithIECPublica
【中国标准分类号】:L42
【国际标准分类号】:31_240
【页数】:27P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件分立器件第7部分:双极晶体管第2节:低频放大外壳额定双极晶体管空白详细规范
【标准号】:IEC60747-7-2-1989
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1989-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:Theblankdetailspecificationdescribedincludesmechanicaldescription,categoriesofassessedquality,limitingvalues,electricalcharacteristics,marking,orderinginformation,testconditionsandinspectionrequirements.TobeusedwithIECPublica
【中国标准分类号】:L42
【国际标准分类号】:31_240
【页数】:27P;A4
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