BS IEC 60747-9-1998 半导体器件.分立器件.绝缘栅双极晶体管(IGBTs)
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时间:2024-05-08 07:57:03
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Discretedevices-Insulated-gatebipolartransistors(IGBTs)
【原文标准名称】:半导体器件.分立器件.绝缘栅双极晶体管(IGBTs)
【标准号】:BSIEC60747-9-1998
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1998-12-15
【实施或试行日期】:1998-12-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:额定值;尺寸选定;符号;晶体管;半导体;分立器件;双极晶体管;半导体器件;集成电路;电气工程;定义;电子工程;测量用连接件;极限(数学);测量技术;电学测量;试验;元部件;特性;电子设备及元件;测量
【英文主题词】:
【摘要】:Productspecificstandardsforterminology,lettersymbols,essentialratingsandcharacteristicsandmeasuringmethods.
【中国标准分类号】:L41
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:72P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.分立器件.绝缘栅双极晶体管(IGBTs)
【标准号】:BSIEC60747-9-1998
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1998-12-15
【实施或试行日期】:1998-12-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:额定值;尺寸选定;符号;晶体管;半导体;分立器件;双极晶体管;半导体器件;集成电路;电气工程;定义;电子工程;测量用连接件;极限(数学);测量技术;电学测量;试验;元部件;特性;电子设备及元件;测量
【英文主题词】:
【摘要】:Productspecificstandardsforterminology,lettersymbols,essentialratingsandcharacteristicsandmeasuringmethods.
【中国标准分类号】:L41
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:72P;A4
【正文语种】:英语
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